GWInstek GSM-20H10 precíziós egyenáramú forrásmérő

Rövid leírás

A GW Instek GSM-20H10 egy precíziós forrásmérő, amely rendkívül stabil DC tápellátást és műszeres minőségű 61 számjegyű multiméter méréseket biztosít. Működés közben feszültségforrásként, áramforrásként, voltmérőként, ampermérőként és ohmmérőként is használható, amely egyedülállóan ideális az alkatrészek jellemzőinek kiértékelésére és a gyártás tesztalkalmazásaira, beleértve a nanoanyagokat és alkatrészeket, a félvezető architektúrát, a szerves anyagokat, nagy hatásfokú illuminációt, passzív alkatrészek és anyagjellemzők elemzését stb.

Tulajdonságok

• Maximum kimeneti feszültség: ±210V/±1.05A/22W
• Beépített 4 sorozatos kimeneti mód, akár 2500 pontig
• OVP/OTP védelmi funkció
• 0,012%-os alapvető mérési pontosság
• Változó mintavételi sebesség
• SDM (Source Delay Measure) ciklus
• 2-, 4- és 6-vezetékes távoli V-forrás és mérésérzékelő
• Változó kijelző számjegyek
• Beépített határérték funkció
• Beépített 5 számítási funkció
• Szabványos SCPI parancs, interfész biztosítása: RS-232, USBTMC, LAN, GPIB (opcionális)
• 4.3" TFT LCD, Digital Number Keypad
• Beépített RTC óra

Mentés

Műszaki leírás

A DMM-ek és a tápegységek gyakori műszerek laboratóriumainkban. Amikor anyagok vagy elektronikai alkatrészek jellemzőit kell elemeznünk, karakterisztikus görbe elemzést érhetünk el DMM és tápegység csatlakoztatásával. A bonyolult vezetékezés és beállítások gyakran okoznak gondot a felhasználóknak, ezért van egy jobb választásunk, az úgynevezett "Precision Source Meter".

A GW Instek GSM-20H10 két műszer funkcióit biztosítja kompakt méretben, ami leegyszerűsíti a tápegység és a DMM közötti vezetékezést a jelleggörbe elemzésekor, lehetővé téve laboratóriumának rugalmasabb helykihasználását. Az interfészkábel csatlakoztatása és vezérlése is sokkal egyszerűbb, ha feszültség- vagy áramforrást kapcsolunk, és távirányítóval mérünk. A GSM-20H10 használatával nagy sebességű tesztelést és nagy áteresztőképességet érhet el.

Funkciók

• Félvezető komponens jellemzőinek vizsgálata
• Energia- és hatékonysági jellemzők vizsgálata
• Szerves anyagok jellemzőinek vizsgálata
• Nanoanyag jellemző vizsgálata